Profil personnel
Qualification académique
HDR
Empreinte digitale
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Collaborations et principaux domaines de recherche des cinq dernières années
Résultat de recherche
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A quality-configurable approximate cache design based on NAND-like SOT MRAM with high energy efficiency
Hou, Z., Shi, L., Qiao, Y., Wang, B., Wu, B., Naviner, L. & wang, Z., 1 janv. 2026, Dans: Integration. 106, 102541.Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article › Revue par des pairs
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Approximate Analytical Model Evaluating Digital Systems Compliance with Automotive Standards
Goudet, E., Sureau, F., Kaila, M., Germe, R., Treviño, L. P., Daveau, J. M., Naviner, L. & Roche, P., 1 janv. 2025, 2025 IEEE 26th Latin American Test Symposium, LATS 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (2025 IEEE 26th Latin American Test Symposium, LATS 2025).Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collection › Contribution à une conférence › Revue par des pairs
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Bypass Synchronization Primitives: GhostRace Attack and Mitigation on RISC-V
Khan, M., Medeiros, M. P. L., De Freitas Rodrigues, M. V., Mushtaq, M., Pacalet, R., Apvrille, L. & Naviner, L., 1 janv. 2025, 2025 7th Computing, Communications and IoT Applications Conference, ComComAp 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 213-220 8 p. (2025 7th Computing, Communications and IoT Applications Conference, ComComAp 2025).Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collection › Contribution à une conférence › Revue par des pairs
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HYGENE: A Diffusion-Based Hypergraph Generation Method
Gailhard, D., Tartaglione, E., Naviner, L. & Giraldo, J. H., 11 avr. 2025, Dans: Proceedings of the AAAI Conference on Artificial Intelligence. 39, 16, p. 16682-16690 9 p.Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article de conférence › Revue par des pairs
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Opcode Analysis of Real Encryption-Based Microarchitectural Attacks Using gem5
Awais, M., Khan, M., Mushtaq, M., Naviner, L., Yahya, J. H., Bruguier, F., Pacalet, R. & Apvrille, L., 1 janv. 2025, 2025 7th Computing, Communications and IoT Applications Conference, ComComAp 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 377-384 8 p. (2025 7th Computing, Communications and IoT Applications Conference, ComComAp 2025).Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collection › Contribution à une conférence › Revue par des pairs
Accès ouvert -
Analysis of Combinational Circuit Failure Rate based on Graph Partitioning and Probabilistic Binomial Approach
Goudet, E., Sureau, F., Breuil, P., Peña Treviño, L., Naviner, L., Daveau, J. M. & Roche, P., 1 juin 2024, Dans: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). 40, 3, p. 291-313 23 p.Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article › Revue par des pairs
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Check-Bit Region Exploration in Two-Dimensional Error Correction Codes
Freitas, D., Mota, D., Coelho, D., Fontinele, H., Coelho, A., Silveira, J., Naviner, L., Mota, J. & Marcon, C., 1 janv. 2024, Dans: IEEE Access. 12, p. 131830-131841 12 p.Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article › Revue par des pairs
Accès ouvert -
Decoding Attack Behaviors by Analyzing Patterns in Instruction-Based Attacks using gem5
Awais, M., Mushtaq, M., Naviner, L., Bruguier, F., Yahya, J. H. & Benoit, P., 1 janv. 2024, Proceedings of the 2024 35th International Workshop on Rapid System Prototyping: Shortening the Path from Specification to Prototype, RSP 2024. IEEE Computer Society, p. 1-6 6 p. (Proceedings of the International Workshop on Rapid System Prototyping).Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collection › Contribution à une conférence › Revue par des pairs
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Drift of Combinational Circuits Failure Rates with a Probabilistic Model Approximated by Partitioning
Goudet, E., Trevino, L. H. P., Dos Santos, G. G., El Hajji, S., Sureau, F., Naviner, L., Daveau, J. M. & Roche, P., 1 janv. 2024, Proceedings - 37th SBC/SBMicro/IEEE/ACM Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, SBCCI 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings - 37th SBC/SBMicro/IEEE/ACM Symposium on Integrated Circuits and Systems Design, SBCCI 2024).Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collection › Contribution à une conférence › Revue par des pairs
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Impact of Scaling Up the Sensor Sampling Frequency on the Reliability of Edge Processing Systems in Tolerating Soft Errors Caused by Neutrons
de Carvalho, M. M., Laurini, L. H., Atukpor, E., Naviner, L. & Bastos, R. P., 1 janv. 2024, Dans: IEEE Sensors Letters. 8, 9, 7004304.Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article › Revue par des pairs
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