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A 1 V 65 nm CMOS reconfigurable time interleaved high pass ΔΣ ADC

  • CNRS LTCI

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Résumé

This paper presents a reconfigurable High-Pass (HP) Time-Interleaved (TI) Delta-Sigma (ΔΣ) Analog-to-Digital Converter (ADC) from theoretical and practical points of view. This ADC is designed to fulfill the requirements of GSM, UMTS, WiFi and WiMAX standards. The reconfiguration is performed by adjusting the interpolation factor, the ΔΣ modulator order and the number of active channels thereby allowing bandwidth-resolution trade-off as well as bandwith-power consumption trade-off. The circuit has been fabricated in a 1 V 65 nm CMOS process. Clocked at 50 MHz, the prototype chip consumes 6 mW per channel and the core die area is 2.52 mm 2.

langue originaleAnglais
titre2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2009
Pages1557-1560
Nombre de pages4
Les DOIs
étatPublié - 26 oct. 2009
Modification externeOui
Evénement2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2009 - Taipei, Taiwan
Durée: 24 mai 200927 mai 2009

Série de publications

NomProceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems
ISSN (imprimé)0271-4310

Une conférence

Une conférence2009 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS 2009
Pays/TerritoireTaiwan
La villeTaipei
période24/05/0927/05/09

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « A 1 V 65 nm CMOS reconfigurable time interleaved high pass ΔΣ ADC ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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