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A dual threshold voltage technique for glitch minimization

  • Mariem Slimani
  • , Philippe Matherat
  • , Yves Mathieu
  • CNRS LTCI

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

We propose to use dual-threshold voltage (dual-Vth) assignment for glitch reduction. We present a heuristic algorithm address this problem. Experimental results on 6 ISCAS85 benchmark circuits implemented in a 65 nm industrial low power CMOS process report more than 16% of glitch reduction on average, and up to 41% for C432 benchmark circuit. To further minimize glitches, we propose to unify gate-sizing and dual-Vth techniques into a single optimization process. Results show an improvement of 10% on average compared to the conventional gate-sizing method. Spice simulations of C432 benchmark circuit report more than 27% and 48% total energy reduction by means the proposed dual-Vth and dual-Vth/gate-sizing algorithm, respectively.

langue originaleAnglais
titre2012 19th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, ICECS 2012
Pages444-447
Nombre de pages4
Les DOIs
étatPublié - 1 déc. 2012
Modification externeOui
Evénement2012 19th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, ICECS 2012 - Seville, Seville, Espagne
Durée: 9 déc. 201212 déc. 2012

Série de publications

Nom2012 19th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, ICECS 2012

Une conférence

Une conférence2012 19th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems, ICECS 2012
Pays/TerritoireEspagne
La villeSeville, Seville
période9/12/1212/12/12

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « A dual threshold voltage technique for glitch minimization ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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