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A fault model for conducted intentional electromagnetic interferences

  • Laurent Sauvage
  • , Sylvain Guilley
  • , Jean Luc Danger
  • , Naofumi Homma
  • , Yu Ichi Hayashi
  • CNRS LTCI
  • Tohoku University

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

Experimental setups used in electromagnetic compatibility tests can be used as platforms for fault injections. Faulting an equipment is a mean for a malevolent attacker to extract secret information. Compared to other fault injection setups, those based on EMC tests provide three advantages: non-invasivity, absence of synchronization, and frequency selectivity. This injection technique therefore allows the attacker to perform analysis with little knowledge of the targeted equipment. To assess the potential of this attack, a characterization of its effects is needed. This is the purpose of this paper. More precisely, our contributions are twofold: First of all, we observe that the faults are reproducible. Second, we show that the fault model is compatible with known attacks.

langue originaleAnglais
titreEMC 2012 - 2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Final Program
Pages788-793
Nombre de pages6
Les DOIs
étatPublié - 12 déc. 2012
Modification externeOui
Evénement2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC 2012 - Pittsburgh, PA, États-Unis
Durée: 5 août 201210 août 2012

Série de publications

NomIEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
ISSN (imprimé)1077-4076
ISSN (Electronique)2158-1118

Une conférence

Une conférence2012 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC 2012
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villePittsburgh, PA
période5/08/1210/08/12

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « A fault model for conducted intentional electromagnetic interferences ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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