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A new fault generator suitable for reliability analysis of digital circuits

  • CNRS LTCI
  • Institute Militar de Engenharia

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Résumé

This paper deals with fault injection issues for reliability analysis. We propose a fault generator IP suitable for hardware emulation of single and multiple simultaneous faults occurence. The proposed IP is based on a very useful approach that allows the designer to control complexity and completeness of the fault injection process. We provide models for cost and performance estimation of the IP. Also, synthesis results of its implementation on FPGA are given.

langue originaleAnglais
titreProceedings of the Argentine-Uruguay School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications 2010, EAMTA 2010
Pages41-45
Nombre de pages5
étatPublié - 20 déc. 2010
Modification externeOui
Evénement4th Argentine School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications and 1st Uruguay School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications, EAMTA 2010 - Montevideo, Uruguay
Durée: 1 oct. 20109 oct. 2010

Série de publications

NomProceedings of the Argentine-Uruguay School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications 2010, EAMTA 2010

Une conférence

Une conférence4th Argentine School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications and 1st Uruguay School of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications, EAMTA 2010
Pays/TerritoireUruguay
La villeMontevideo
période1/10/109/10/10

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « A new fault generator suitable for reliability analysis of digital circuits ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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