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An accurate and contrast invariant junction detector

  • Université Paris Dauphine
  • CNRS LTCI

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

This paper introduces a generic method for the accurate analysis of junctions, relying on a statistical modeling of normalized image gradients. We analyze junctions as local visual events that do not happen by chance under a background model derived from the a-contrario methodology. The method not only provides thresholds for the detection of junctions, but also enables their accurate characterization, including a precise computation of their type, localization, scale and geometrical configuration. The efficiency of the method is evaluated through various experiments.

langue originaleAnglais
titreICPR 2012 - 21st International Conference on Pattern Recognition
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Pages2780-2783
Nombre de pages4
ISBN (imprimé)9784990644109
étatPublié - 1 janv. 2012
Modification externeOui
Evénement21st International Conference on Pattern Recognition, ICPR 2012 - Tsukuba, Japon
Durée: 11 nov. 201215 nov. 2012

Série de publications

NomProceedings - International Conference on Pattern Recognition
ISSN (imprimé)1051-4651

Une conférence

Une conférence21st International Conference on Pattern Recognition, ICPR 2012
Pays/TerritoireJapon
La villeTsukuba
période11/11/1215/11/12

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « An accurate and contrast invariant junction detector ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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