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Apparent doping-dependence of the a-Si:H/c-Si interface degradation upon ITO sputtering

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Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

In this work, we address the doping dependence of SHJ solar cell precursor passivation degradation upon ITO sputtering by PVD. We report the higher apparent sensitivity of the emitter. By varying the doping, we were able to demonstrate that the emitter is not necessarily less resilient to this process. Indeed the same amount of defects can be created on the BSF side all the while remaining screened thanks to the highly effective field-effect provided by the capping n-doped a-Si:H layer.

langue originaleAnglais
titre2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Pages645-648
Nombre de pages4
ISBN (Electronique)9781479943982
Les DOIs
étatPublié - 15 oct. 2014
Evénement40th IEEE Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014 - Denver, États-Unis
Durée: 8 juin 201413 juin 2014

Série de publications

Nom2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014

Une conférence

Une conférence40th IEEE Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeDenver
période8/06/1413/06/14

Empreinte digitale

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