Passer à la navigation principale Passer à la recherche Passer au contenu principal

Automated characterization of HF power transistors by source-pull and multiharmonic load-pull measurements based on six-port techniques

  • Telecom Paris
  • Nokia GmbH

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

27 Citations (Scopus)

Résumé

An original measurement system for nonlinear microwave power-transistor characterization using six-port reflectometers is presented. It allows independent active tuning of the output impedances at fo and 2/o (multiharmonic load-pull) and variation of the source impedance at the input port at fo (source-pull). An appropriate search algorithm enables automatic optimization of the output impedances and leads to fast user-friendly operation of the system. Experimental results are shown for a commercial GaAs MESFET power transistor at fo - 2 GHz.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)2068-2073
Nombre de pages6
journalIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Volume46
Numéro de publication12 PART 1
Les DOIs
étatPublié - 1 déc. 1998
Modification externeOui

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Automated characterization of HF power transistors by source-pull and multiharmonic load-pull measurements based on six-port techniques ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Contient cette citation