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Coherence-based transverse measurement of synchrotron X-ray radiation from relativistic laser-plasma interaction and of laser-accelerated electrons

  • Rahul C. Shah
  • , F. Albert
  • , K. Ta Phuoc
  • , F. Burgy
  • , J. P. Rousseau
  • , O. Shevchenko
  • , D. Boschetto
  • , A. Rousse
  • , Alexander Pukhov
  • , Sergei Kiselev
  • Laboratory d'Optique Appliquée, ENSTA, CNRS-École Polytechnique
  • Heinrich Heine University Düsseldorf

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

Fresnel diffraction of x-ray beam from laser-plasma interaction shows incoherent-source diameter·8 μm. Analysis shows this corresponds to accelerated electron profile in plasma agreeing with simulation.

langue originaleAnglais
titrePhotonic Applications Systems Technologies Conference, PhAST 2007
EditeurOptical Society of America
ISBN (imprimé)1557528349, 9781557528346
étatPublié - 1 janv. 2007
EvénementPhotonic Applications Systems Technologies Conference, PhAST 2007 - Baltimore, MD, États-Unis
Durée: 8 mai 20078 mai 2007

Série de publications

NomOptics InfoBase Conference Papers
ISSN (Electronique)2162-2701

Une conférence

Une conférencePhotonic Applications Systems Technologies Conference, PhAST 2007
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeBaltimore, MD
période8/05/078/05/07

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Coherence-based transverse measurement of synchrotron X-ray radiation from relativistic laser-plasma interaction and of laser-accelerated electrons ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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