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Effect of Gaussian Disorder on Power-Law Contact Resistance and Mobility in Organic Field-Effect Transistors

  • Sungyeop Jung
  • , Yongjeong Lee
  • , Andrew Plews
  • , Ahmed Nejim
  • , Yvan Bonnassieux
  • , Gilles Horowitz
  • Université Paris-Saclay
  • (AICT)
  • Silvaco Europe

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

We study the effect of Gaussian energetic disorder on the organic field-effect transistors (OFETs) with surprisingly high field-effect mobility and the low contact resistance. The numerical device simulation assumes the thermally assisted hopping transport and injection in disordered semiconductors. The results are analyzed with the power-law field-effect mobility and the asymptotic power-law contact resistance model. Transistor parameters extracted by the models reveal that a higher Gaussian disorder, which leads to a lower injection barrier and a larger mobility enhancement, is the origin of the high field-effect mobility and the low contact resistance.

langue originaleAnglais
Numéro d'article9258937
Pages (de - à)307-310
Nombre de pages4
journalIEEE Transactions on Electron Devices
Volume68
Numéro de publication1
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 2021
Modification externeOui

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