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Experimental comparison of load-pull measurement systems for nonlinear power transistor characterization

  • Frédérique Deshours
  • , Eric Bergeault
  • , F. Blache
  • , Jean Pierre Villotte
  • , B. Villeforceix
  • Telecom Paris
  • Institute de Recherche en Communications Optiques et Microondes (IRCOM)
  • Orange Labs

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

Load-pull measurements are essential to accurately characterize power devices. This paper presents a comparison of measurement systems based on a load-pull configuration. The experimental results performed on a power MESFET transistor (1 W) are compared in terms of output power level and power added efficiency under variable operating conditions, i.e., load impedances and input power levels.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)1251-1255
Nombre de pages5
journalIEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Volume46
Numéro de publication6
Les DOIs
étatPublié - 1 déc. 1997

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Experimental comparison of load-pull measurement systems for nonlinear power transistor characterization ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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