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Fast analysis of combinatorial netlists correctness rate based on binomial law and partitioning

  • Esther Goudet
  • , Luis Peña Trevino
  • , Lirida Naviner
  • , Jean Marc Daveau
  • , Philippe Roche
  • Institut Polytechnique de Paris
  • STMicroelectronics SA, France

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

This paper targets fault propagation evaluation in combinational circuits and focuses on netlist-based logic masking prediction. We propose an approach that combines clustering and analytical estimation methods to allow to control the trade-off between accuracy and computation time. The experimental results performed on netlists with large number of gates and complex reconvergent structures show that the proposed solution is better adapted to large combinatorial netlists than the analysis found in the literature.

langue originaleAnglais
titre2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium, LATS 2023
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (Electronique)9798350325973
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 2023
Evénement24th IEEE Latin American Test Symposium, LATS 2023 - Veracruz, Mexique
Durée: 21 mars 202324 mars 2023

Série de publications

Nom2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium, LATS 2023

Une conférence

Une conférence24th IEEE Latin American Test Symposium, LATS 2023
Pays/TerritoireMexique
La villeVeracruz
période21/03/2324/03/23

Empreinte digitale

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