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Fast plane detection in disparity maps

  • E. Bughin
  • , A. Almansa
  • , R. Grompone Von Gioi
  • , Y. Tendero
  • ENS Paris-Saclay

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

6 Citations (Scopus)

Résumé

We propose a new method for fast detection of planar patches in disparity maps. We first use a region growing algorithm on random seeds. This approach is similar to the one introduced in [1] for fast line segment detection in images. Then, the parameter-free criterion introduced in [2] is used to keep only the patches that are planar. The main advantage of our method is to be able to estimate the disparity map precision which is usually a critical parameter in other methods. This method is specially well suited to 3D reconstruction of urban environments from low-baseline aerial or satellite stereo pairs where a piecewise-planar model can be applied.

langue originaleAnglais
titre2010 IEEE International Conference on Image Processing, ICIP 2010 - Proceedings
Pages2961-2964
Nombre de pages4
Les DOIs
étatPublié - 1 déc. 2010
Evénement2010 17th IEEE International Conference on Image Processing, ICIP 2010 - Hong Kong, Hong-Kong
Durée: 26 sept. 201029 sept. 2010

Série de publications

NomProceedings - International Conference on Image Processing, ICIP
ISSN (imprimé)1522-4880

Une conférence

Une conférence2010 17th IEEE International Conference on Image Processing, ICIP 2010
Pays/TerritoireHong-Kong
La villeHong Kong
période26/09/1029/09/10

Empreinte digitale

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