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Femtosecond time-resolved imaging interferometry: A technique to investigate ultrafast phenomena in solids

  • University of Dortmund
  • University of Duisburg-Essen

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

Capabilities of time-resolved interferometry to study ultrafast phenomena in solids are explored by measuring nanometer-scale transient deformations on laser-excited surfaces and ultrafast evolution of small refractive index changes in the bulk of dielectrics.

langue originaleAnglais
titreConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2007
EditeurOptical Society of America
ISBN (imprimé)1557528349, 9781557528346
étatPublié - 1 janv. 2007
Modification externeOui
EvénementConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2007 - Baltimore, MD, États-Unis
Durée: 6 mai 20076 mai 2007

Série de publications

NomOptics InfoBase Conference Papers
ISSN (Electronique)2162-2701

Une conférence

Une conférenceConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2007
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeBaltimore, MD
période6/05/076/05/07

Empreinte digitale

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