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Gain lifetime measurement of a Ni-like Ag soft X-ray laser

  • B. Ecker
  • , E. Oliva
  • , B. Aurand
  • , D. C. Hochhaus
  • , P. Neumayer
  • , H. Zhao
  • , B. Zielbauer
  • , K. Cassou
  • , S. Daboussi
  • , O. Guilbaud
  • , S. Kazamias
  • , T. T.T. Le
  • , D. Ros
  • , P. Zeitoun
  • , T. Kuehl
  • Helmholtz Institut Jena
  • Johannes Gutenberg University
  • Laboratory d'Optique Appliquée, ENSTA, CNRS-École Polytechnique
  • GSI Helmholtzzentrum fur Schwerionenforschung
  • Goethe University Frankfurt am Main
  • Université Paris-Saclay

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

Experimental results of a two-stage Ni-like Ag soft X-ray laser operated in a seed-amplifier configuration are presented. Both targets were pumped applying the double-pulse grazing incidence technique with intrinsic travelling wave excitation. The injection of the seed X-ray laser into the amplifier target was realized by a spherical mirror. The results show amplification of the seed X-ray laser and allow for a direct measurement of the gain lifetime. The experimental configuration is suitable for providing valuable input for computational simulations.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)25391-25399
Nombre de pages9
journalOptics Express
Volume20
Numéro de publication23
Les DOIs
étatPublié - 5 nov. 2012

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Gain lifetime measurement of a Ni-like Ag soft X-ray laser ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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