Passer à la navigation principale Passer à la recherche Passer au contenu principal

Gas Immersion Laser Doping for superconducting nanodevices

  • F. Chiodi
  • , A. Grockowiak
  • , J. E. Duvauchelle
  • , F. Fossard
  • , F. Lefloch
  • , T. Klein
  • , C. Marcenat
  • , D. Débarre
  • CNRS
  • Univ. Joseph Fourier-Grenoble 1

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

9 Citations (Scopus)

Résumé

We have conceived and fabricated Superconductor/Normal metal/Superconductor Josephson junctions made entirely of boron doped Silicon. We have used Gas Immersion Laser Doping to fabricate SN bilayers with good ohmic interfaces and well controlled concentration and doping depth. Standard fabrication processes, optimised for silicon, were employed to nanostructure the bilayers without affecting their transport properties. The junctions thus fabricated are proximity superconducting and show well understood I-V characteristics. This research opens the road to all-silicon, non-dissipative, Josephson Field Effect Transistors.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)209-212
Nombre de pages4
journalApplied Surface Science
Volume302
Les DOIs
étatPublié - 30 mai 2014

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Gas Immersion Laser Doping for superconducting nanodevices ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Contient cette citation