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High resolution spectral characterization of Betatron X-ray radiation

  • Félicie Albert
  • , Kim Ta Phuoc
  • , Rahul Shah
  • , Romuald Fitour
  • , Frédéric Burgy
  • , Amar Tafzi
  • , Denis Douillet
  • , Thierry Lefrou
  • , Antoine Rousse
  • Laboratory d'Optique Appliquée, ENSTA, CNRS-École Polytechnique

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

We present the first detailed spectral measurement of 1-3 keV Betatron X-ray radiation with two high resolution crystal spectrometers. Electron trajectories in the laser produced plasma can he determined with this measurement.

langue originaleAnglais
titre2008 Conference on and Quantum Electronics and Laser Science Conference Lasers and Electro-Optics, QELS
Les DOIs
étatPublié - 16 sept. 2008
EvénementConference on and Quantum Electronics and Laser Science Conference Lasers and Electro-Optics, QELS 2008 - San Jose, CA, États-Unis
Durée: 4 mai 20089 mai 2008

Série de publications

NomConference on Quantum Electronics and Laser Science (QELS) - Technical Digest Series

Une conférence

Une conférenceConference on and Quantum Electronics and Laser Science Conference Lasers and Electro-Optics, QELS 2008
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeSan Jose, CA
période4/05/089/05/08

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « High resolution spectral characterization of Betatron X-ray radiation ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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