Imagerie tomographique et topographique par microscopie interférentielle

L. Vabre; A. Dubois; E. Beaurepaire; J. L. Stéhlé; A. C. Boccara

doi:10.3845/ree.2001.005

Imagerie tomographique et topographique par microscopie interférentielle

L. Vabre
, A. Dubois
, E. Beaurepaire
, J. L. Stéhlé
, A. C. Boccara

Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article › Revue par des pairs

Résumé

An interference microscope using a low coherence source, based on a Michelson interferometer, is coupled with a CCD camera acquiring interference images at high frequency. Using a parallel lock-in detection on all the pixels of the CCD array, we obtain intensity images (tomographic images) or phase images (proportional to the topography) of the observed object.

Titre traduit de la contribution	Tomographic and topographic images using an interference microscope
langue originale	Français
Pages (de - à)	45-47
Nombre de pages	3
journal	REE, Revue de L'Electricite et de L'Electronique
Numéro de publication	1
Les DOIs	https://doi.org/10.3845/ree.2001.005
état	Publié - 1 janv. 2001
Modification externe	Oui

mots-clés

Coherent optics
Interference microscopy
Tomography

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10.3845/ree.2001.005

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keywords = "Coherent optics, Interference microscopy, Tomography",

author = "L. Vabre and A. Dubois and E. Beaurepaire and St{\'e}hl{\'e}, \{J. L.\} and Boccara, \{A. C.\}",

year = "2001",

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pages = "45--47",

journal = "REE, Revue de L'Electricite et de L'Electronique",

issn = "1265-6534",

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TY - JOUR

T1 - Imagerie tomographique et topographique par microscopie interférentielle

AU - Vabre, L.

AU - Dubois, A.

AU - Beaurepaire, E.

AU - Stéhlé, J. L.

AU - Boccara, A. C.

PY - 2001/1/1

Y1 - 2001/1/1

N2 - An interference microscope using a low coherence source, based on a Michelson interferometer, is coupled with a CCD camera acquiring interference images at high frequency. Using a parallel lock-in detection on all the pixels of the CCD array, we obtain intensity images (tomographic images) or phase images (proportional to the topography) of the observed object.

AB - An interference microscope using a low coherence source, based on a Michelson interferometer, is coupled with a CCD camera acquiring interference images at high frequency. Using a parallel lock-in detection on all the pixels of the CCD array, we obtain intensity images (tomographic images) or phase images (proportional to the topography) of the observed object.

KW - Coherent optics

KW - Interference microscopy

KW - Tomography

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/24044525701

U2 - 10.3845/ree.2001.005

DO - 10.3845/ree.2001.005

M3 - Article

AN - SCOPUS:24044525701

SN - 1265-6534

SP - 45

EP - 47

JO - REE, Revue de L'Electricite et de L'Electronique

JF - REE, Revue de L'Electricite et de L'Electronique

IS - 1

ER -

Imagerie tomographique et topographique par microscopie interférentielle

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