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In-plane silicon nanowires for field effect transistor application

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

Silicon nanowires (SiNW) are important building blocks for a new generation of transistor and sensor applications. Integration and up-scaling of these functionalities rely on a critical ability to position and assemble these nanoscale 1D channels over large areas. We have proposed and demonstrated an in-plane solid-liquid-solid (IPSLS) growth mode of SiNWs, which enables unprecedented morphology control of the in-plane SiNWs and precise deployment of large-scale SiNW arrays. Notably, all the fabrication process can be accomplished in a CMOS compatible all-in-situ plasma deposition environment. We will present here the recent progress in this field and address particularly their related aspects for field effect transistor application.

langue originaleAnglais
titre2011 International Conference on Semiconductor Technology for Ultra Large Scale Integrated Circuits and Thin Film Transistors, ULSIC vs. TFT
EditeurElectrochemical Society Inc.
Pages147-154
Nombre de pages8
Edition1
ISBN (Electronique)9781607682516
ISBN (imprimé)9781607682523
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 2011
Evénement3rd International Conference on Semiconductor Technology for Ultra Large Integrated Circuits and Thin Film Transistors, ULSIC vs. TFT III - Hong Kong, Chine
Durée: 27 juin 20111 juil. 2011

Série de publications

NomECS Transactions
nombre1
Volume37
ISSN (imprimé)1938-5862
ISSN (Electronique)1938-6737

Une conférence

Une conférence3rd International Conference on Semiconductor Technology for Ultra Large Integrated Circuits and Thin Film Transistors, ULSIC vs. TFT III
Pays/TerritoireChine
La villeHong Kong
période27/06/111/07/11

Empreinte digitale

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