Passer à la navigation principale Passer à la recherche Passer au contenu principal

Intrinsic acceptors in semi-insulating gallium-arsenide studied by positron annihilation and ODMR

  • K. Krambrock
  • , C. Le Berre
  • , C. Corbel
  • , K. Saarinen
  • , P. Hautojarvi
  • Institut National des Sciences et Techniques Nucléaires

Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article de conférence › Revue par des pairs

Résumé

A study combining optical absorption, MCDA, ODEPR and PAS in undoped SI GaAs shows that the concentrations of paramagnetic EL2, EL2+, and near bandgap Reverse Contrast absorptions, a paramagnetic GaAs-related defect in trigonal symmetry and the concentrations of As vacancies are correlated.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)195-200
Nombre de pages6
journalMaterials Science Forum
Volume196-201
Numéro de publicationpt 1
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 1995
Modification externeOui
EvénementProceedings of the 1995 18th International Conference on Defects in Semiconductors, ICDS-18. Part 1 (of 4) - Sendai, Jpn
Durée: 23 juil. 1995 → 28 juil. 1995

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Intrinsic acceptors in semi-insulating gallium-arsenide studied by positron annihilation and ODMR ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Contient cette citation