Résumé
A study combining optical absorption, MCDA, ODEPR and PAS in undoped SI GaAs shows that the concentrations of paramagnetic EL2, EL2+, and near bandgap Reverse Contrast absorptions, a paramagnetic GaAs-related defect in trigonal symmetry and the concentrations of As vacancies are correlated.
| langue originale | Anglais |
|---|---|
| Pages (de - à) | 195-200 |
| Nombre de pages | 6 |
| journal | Materials Science Forum |
| Volume | 196-201 |
| Numéro de publication | pt 1 |
| Les DOIs | |
| état | Publié - 1 janv. 1995 |
| Modification externe | Oui |
| Evénement | Proceedings of the 1995 18th International Conference on Defects in Semiconductors, ICDS-18. Part 1 (of 4) - Sendai, Jpn Durée: 23 juil. 1995 → 28 juil. 1995 |
Empreinte digitale
Examiner les sujets de recherche de « Intrinsic acceptors in semi-insulating gallium-arsenide studied by positron annihilation and ODMR ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.Contient cette citation
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