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Ionization mechanisms in dielectrics irradiated by femtosecond laser pulses

  • V. V. Temnov
  • , K. Sokolowski-Tinten
  • , P. Zhou
  • , B. Rethfeld
  • , V. E. Gruzdev
  • , A. El-Khamawy
  • , D. Von Der Linde
  • University of Duisburg-Essen

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticle de conférenceRevue par des pairs

Résumé

In order to investigate the ultrafast dynamics of free carriers generated in bulk dielectrics by intense femtosecond laser pulses we have designed a setup for ultrafast time-resolved imaging Mach-Zehnder interferometry. The application of the 2D-Fourier-transform technique allows us to accurately reconstruct the actual laser-induced phase shifts and transmission changes for the probe pulses, which provide the properties of free carriers. Interferometric measurements in high-purity fused silica clearly demonstrate that the dominant ionization mechanism for intensities below 10 TW/cm 2 is multiphoton ionization.

langue originaleAnglais
Numéro d'article164
Pages (de - à)1119-1126
Nombre de pages8
journalProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volume5448
Numéro de publicationPART 2
Les DOIs
étatPublié - 1 déc. 2004
Modification externeOui
EvénementHigh-Power Laser Ablation V - Taos, NM, États-Unis
Durée: 25 avr. 200430 avr. 2004

Empreinte digitale

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