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Local structure of the DX center in AlGaAs: results from positron spectroscopy

  • T. Laine
  • , J. Makinen
  • , K. Saarinen
  • , P. Hautojarvi
  • , C. Corbel
  • , P. Gibart
  • Aalto University

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticle de conférenceRevue par des pairs

2 Citations (Scopus)

Résumé

The positron annihilation method was used to investigate the DX(Si) and DX(Te) centers in n-type AlGaAs. A vacancy defect is observed in the ground state of the DX centers. The vacancy signal disappears in shallow donor state reached at low temperatures by illuminating the sample. The size of the vacancy is smaller compared with isolated As and Ga vacancies. Our results are in good agreement with the vacancy-interstitial model of the DX center.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)1073-1078
Nombre de pages6
journalMaterials Science Forum
Volume196-201
Numéro de publicationpt 2
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 1995
Modification externeOui
EvénementProceedings of the 1995 18th International Conference on Defects in Semiconductors, ICDS-18. Part 1 (of 4) - Sendai, Jpn
Durée: 23 juil. 199528 juil. 1995

Empreinte digitale

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