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Measurement of XUV sources' wavefronts

  • Université Paris-Saclay
  • Laboratoire de Spectroscopie Atomique et Ionique
  • Institut d'Electronique de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN)

Résultats de recherche: Contribution à un journal › Article › Revue par des pairs

1 Citation (Scopus)

Résumé

New fields of X-ray source applications (X-ray laser and high order harmonic generation) could appear if an intensity higher than 1012 Wcm-2 is reached. Following this goal, we have started a complete investigation of the X-ray beam wavefront both numerically and experimentally. The first XUV wavefront sensor has been developed and tested on different XUV sources. For a better comprehension of the experimental results, a numerical work (ray-trace code) has been performed. We present and discuss the first results obtained on the X-ray laser at 21.2 nm.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)55-58
Nombre de pages4
journalLaser and Particle Beams
Volume19
Numéro de publication1
Les DOIs
étatPublié - 12 sept. 2001
Modification externeOui

Empreinte digitale

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