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Measurements of Ultrafast Optical Nonlinearities in Semiconductors

  • B. D. Fluegel
  • , J. P. Sokoloff
  • , F. Jarka
  • , S. W. Koch
  • , M. Lindberg
  • , N. Peyghambarian
  • , M. Joffre
  • , D. Hulin
  • , A. Migus
  • , A. Antonetti
  • , C. Ell
  • , L. Banyai
  • , H. Haug
  • University of Arizona
  • Goethe University Frankfurt am Main

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

The response of a bulk semiconductor platelet under the influence of nonresonant pulse excitation below the band gap is measured using femtosecond laser techniques. These optical Stark effect measurements are analyzed using the effective Bloch equations for semiconductors. These equations are solved (i) dynamically in the large detuning, low intensity limit and (ii) for arbitrary intensities in the adiabatic limit.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)357-363
Nombre de pages7
journalPhysica Status Solidi (B) Basic Research
Volume150
Numéro de publication2
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 1988

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Measurements of Ultrafast Optical Nonlinearities in Semiconductors ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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