Passer à la navigation principale Passer à la recherche Passer au contenu principal

Metrological analysis of the DIC ultimate error regime

  • M. Bornert
  • , P. Doumalin
  • , J. C. Dupré
  • , C. Poilâne
  • , L. Robert
  • , E. Toussaint
  • , B. Wattrisse
  • Univ. Poitiers
  • Normandie Université
  • Université de Toulouse
  • Institut Pascal
  • Université Montpellier-II

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

In DIC, the “ultimate error regime” corresponds to situations for which the shape function used to describe the material transformation perfectly matches the actual one. We propose to confront results obtained from numerically-shifted images with the predictions of theoretical models developed in the literature to describe bias and random error evolutions with respect to the imposed displacement. Results show the overall good predictions of these models but small deviations arise, mainly around integer values of imposed displacements for noisy images. These deviations are interpreted as the unrepresentativeness of the underlying hypotheses of the theoretical models in these particular cases.

langue originaleAnglais
titreConference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series
rédacteurs en chefMichael Sutton, Phillip L. Reu
EditeurSpringer Science and Business Media, LLC
Pages191-193
Nombre de pages3
ISBN (imprimé)9783319514383, 9783319746418
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 2017
Evénement1st Annual International Digital Imaging Correlation Society, 2016 - Philadelphia, États-Unis
Durée: 7 nov. 201610 nov. 2016

Série de publications

NomConference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series
Volume0
ISSN (imprimé)2191-5644
ISSN (Electronique)2191-5652

Une conférence

Une conférence1st Annual International Digital Imaging Correlation Society, 2016
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villePhiladelphia
période7/11/1610/11/16

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Metrological analysis of the DIC ultimate error regime ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Contient cette citation