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Numerical modeling of capacitively coupled hydrogen plasmas: Effects of frequency and pressure

  • Institut polytechnique de Paris
  • Université Paris 13

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

A numerical model of hydrogen plasmas involved in amorphous and microcrystalline silicon deposition was presented. A symmetric radio frequency plasma with one electrode driven and one grounded (no self-bias) was studied. A one-dimensional time-dependent fluid model was used for the description of neutrals, positive and negative ions and electrons. Results indicated strong influence of pressure and frequency on hydrogen discharges characteristics.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)3198-3206
Nombre de pages9
journalJournal of Applied Physics
Volume93
Numéro de publication6
Les DOIs
étatPublié - 15 mars 2003

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Numerical modeling of capacitively coupled hydrogen plasmas: Effects of frequency and pressure ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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