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Observation of a narrow pseudogap near the fermi level of AlCuFe quasicrystalline thin films

  • T. Klein
  • , O. G. Symko
  • , D. N. Davydov
  • , A. G.M. Jansen
  • University of Utah
  • CNRS

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

We present the first experimental determination by tunneling spectroscopy of the density of states (DOS) close to the Fermi energy of AlCuFe quasicrystalline thin film samples. The measurements show that the Fermi level in a quasicrystal lies in a deep narrow pseudogap 60 meV wide. Above an applied voltage of 50 mV a V1/2 contribution to the DOS is observed in agreement with electron-electron interaction effects.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)3656-3659
Nombre de pages4
journalPhysical Review Letters
Volume74
Numéro de publication18
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 1995

Empreinte digitale

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