Passer à la navigation principale Passer à la recherche Passer au contenu principal

Observation of the linear stark effect in a single acceptor in Si

  • Université Paris-Saclay
  • Yale University

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

The Stark splitting of a single fourfold degenerate impurity located within the built-in potential of a metal-semiconductor contact is investigated using low temperature transport measurements. A model is developed and used to analyze transport as a function of temperature, bias voltage, and magnetic field. Our data is consistent with a boron impurity. We report g factors of g1/2=1.14 and g3/2=1.72 and a linear Stark splitting 2Δ of 0.1 meV.

langue originaleAnglais
Numéro d'article096805
journalPhysical Review Letters
Volume98
Numéro de publication9
Les DOIs
étatPublié - 2 mars 2007
Modification externeOui

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Observation of the linear stark effect in a single acceptor in Si ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Contient cette citation