Passer à la navigation principale Passer à la recherche Passer au contenu principal

On the correlation between femtosecond laser-induced defects taxonomy and localized accelerated chemical etching in fused silica

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

The non-ablative interaction of femtosecond laser pulses with fused silica leads to defects creation in the silica glass network. Here, we report on the correlation between defects and localized accelerated etching, that enables three-dimensional manufacturing process.

langue originaleAnglais
titre2024 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2024
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (Electronique)9781957171395
étatPublié - 2024
Modification externeOui
Evénement2024 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2024 - Charlotte, États-Unis
Durée: 7 mai 202410 mai 2024

Série de publications

Nom2024 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2024

Une conférence

Une conférence2024 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2024
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeCharlotte
période7/05/2410/05/24

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « On the correlation between femtosecond laser-induced defects taxonomy and localized accelerated chemical etching in fused silica ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

Contient cette citation