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Photonic band measurement by angle-resolved spectroscopy and polarimetry

  • Zdenek Král
  • , Josep Ferré-Borrull
  • , Lluis F. Marsal
  • , Josep Pallarès
  • , Enric Garcia-Caurel
  • , Martin Foldyna
  • , Santiago M. Olaizola
  • Universitat Rovira i Virgili
  • Institut polytechnique de Paris
  • Clínica Universidad de Navarra

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

In this work we show the application of the angle-resolved spectroscopic reflectivity and polarimetry to the characterization of 2D photonic crystal structures in the form of slabs. The method we introduce is based on the combination of i) the numerical simulation of the interaction of the incident light with the photonic crystal, ii) the experimental measurement and iii) the comparison of both results. We show that the calculations predict the coupling of the incident light to photonic modes propagating inside the structure, related to the photonic bands of the infinite photonic crystal. We demonstrate this coupling in the experimental measurements for two kinds of samples consisting of 2D photonic crystal slabs of micro- and nanostructured photoresist on a silicon substrate.

langue originaleAnglais
titreProceedings of the 2009 Spanish Conference on Electron Devices, CDE'09
Pages394-397
Nombre de pages4
Les DOIs
étatPublié - 24 avr. 2009
Evénement2009 Spanish Conference on Electron Devices, CDE'09 - Santiago de Compostela, Espagne
Durée: 11 févr. 200913 févr. 2009

Série de publications

NomProceedings of the 2009 Spanish Conference on Electron Devices, CDE'09

Une conférence

Une conférence2009 Spanish Conference on Electron Devices, CDE'09
Pays/TerritoireEspagne
La villeSantiago de Compostela
période11/02/0913/02/09

Empreinte digitale

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