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Polarization influence on the sensitivity to side -wall roughness in ultra-small square SOI waveguides

  • F. Grillot
  • , L. Vivien
  • , S. Laval
  • , D. Pascal
  • , E. Cassan
  • Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies
  • Institut d'Electronique Fondamentale

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

Numerical investigations of scattering loss induced by side -wall ro ughness are performed for SOI square strip waveguides under quasi -TE and quasi -TM polarizati ons. Propagation loss is calculated for waveguide sizes ra nging from 500nm to 100nm. Simulations show when the incident fundamental mode polarization is a quasi -TM one, lower propagation loss is expected.

langue originaleAnglais
titreFrontiers in Optics, FiO-2004
EditeurOptica Publishing Group (formerly OSA)
ISBN (Electronique)1557527792
étatPublié - 1 janv. 2004
Modification externeOui
EvénementFrontiers in Optics, FiO-2004 - Rochester, États-Unis
Durée: 12 oct. 2004 → …

Série de publications

NomOptics InfoBase Conference Papers
ISSN (Electronique)2162-2701

Une conférence

Une conférenceFrontiers in Optics, FiO-2004
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeRochester
période12/10/04 → …

Empreinte digitale

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