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Ptychographic characterization of an intense high-harmonic-seeded femtosecond soft X-ray laser

  • Abbe Center of Photonics
  • Helmholtz Institut Jena
  • University of California, Berkeley
  • Max-Planck-Gesellschaft
  • Universidad Politécnica de Madrid
  • Instituto de Fusión Nuclear
  • Universität München
  • Max-Planck Institut für Quantenoptik

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

We report the direct wavefront characterization of an intense ultrafast high-harmonic-seeded soft X-ray laser (=32.8 nm) and monitor the laser plasma amplifier depending on the arrival time of the seed pulses by high-resolution ptychographic imaging.

langue originaleAnglais
titreCLEO
Sous-titreScience and Innovations, CLEO_SI 2019
EditeurOptica Publishing Group (formerly OSA)
ISBN (imprimé)9781943580576
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 2019
EvénementCLEO: Science and Innovations, CLEO_SI 2019 - San Jose, États-Unis
Durée: 5 mai 201910 mai 2019

Série de publications

NomOptics InfoBase Conference Papers
VolumePart F129-CLEO_SI 2019
ISSN (Electronique)2162-2701

Une conférence

Une conférenceCLEO: Science and Innovations, CLEO_SI 2019
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeSan Jose
période5/05/1910/05/19

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Ptychographic characterization of an intense high-harmonic-seeded femtosecond soft X-ray laser ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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