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Ptychographic Characterization of an Intense High-Harmonic-Seeded Femtosecond Soft X-Ray Laser

  • Abbe Center of Photonics
  • Helmholtz Institut Jena
  • University of California, Berkeley
  • Max-Planck-Gesellschaft
  • Universidad Politécnica de Madrid
  • Universität München
  • Max-Planck Institut für Quantenoptik

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

We report the direct wavefront characterization of an intense ultrafast high-harmonic-seeded soft X-ray laser (\lambda=32.8\ \text{nm}) and monitor the laser plasma amplifier depending on the arrival time of the seed pulses by high-resolution ptychographic imaging.

langue originaleAnglais
titre2019 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2019 - Proceedings
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (Electronique)9781943580576
Les DOIs
étatPublié - 1 mai 2019
Evénement2019 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2019 - San Jose, États-Unis
Durée: 5 mai 201910 mai 2019

Série de publications

Nom2019 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2019 - Proceedings

Une conférence

Une conférence2019 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2019
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeSan Jose
période5/05/1910/05/19

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Ptychographic Characterization of an Intense High-Harmonic-Seeded Femtosecond Soft X-Ray Laser ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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