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Quantitative imaging of thin films solar cells properties using CuInGaSe2 microcells

  • PSL University

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

CIGS is currently the subject of numerous studies, having shown high efficiencies both in laboratories and in the industry. This material is polycrystalline, and presents strong spatial property fluctuations. It is admitted that these fluctuations impact the global parameters of the cell, either positively or negatively. To better understand the underlying mechanisms, our objective is to experimentally probe the optoelectronic fluctuations at the micrometer scale. To this purpose the luminescence of the cell will be studied, since it contains various information and can be spatially resolved. Local EQE measurements are also performed. Microscale solar cells are used as a tool for the local characterization of Cu(In, Ga)Se2. In the mesa configuration, we study the electrical behavior of sidewall surfaces.

langue originaleAnglais
titre2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Pages2053-2055
Nombre de pages3
ISBN (Electronique)9781479943982
Les DOIs
étatPublié - 15 oct. 2014
Modification externeOui
Evénement40th IEEE Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014 - Denver, États-Unis
Durée: 8 juin 201413 juin 2014

Série de publications

Nom2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014

Une conférence

Une conférence40th IEEE Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2014
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeDenver
période8/06/1413/06/14

Empreinte digitale

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