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Relative intensity noise of injection-locked epitaxial quantum dot laser on silicon

  • Qi Chu
  • , Shiyuan Zhao
  • , Frederic Grillot
  • , Jiawei Wang
  • , Feng He
  • , Mingyu Zhang
  • , Xiaochuan Xu
  • , Yong Yao
  • , Jianan Duan
  • Harbin Institute of Technology Shenzhen
  • University of New Mexico

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

This work investigates the relative intensity noise (RIN) characteristics of quantum dot (QD) lasers epitaxially grown on silicon subject to the optical injection. The effect of threading dislocation (TD), which acts as nonradiative recombination centers in the Shockley-Read-Hall (SRH) process, is considered in the rate equation model. The results reveal that the RIN is enhanced by decreasing the nonradiative recombination lifetime. It is shown that this high RIN characteristics is suppressed by the optical injection. In the stable injection-locked area, the RIN is reduced down to - 168 dB/Hz by adjusting the injection ratio and frequency detuning. This work provides an effective method for designing low RIN lasers for photonics integrated circuits (PICs) on silicon.

langue originaleAnglais
titre2022 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices, NUSOD 2022
EditeurIEEE Computer Society
Pages59-60
Nombre de pages2
ISBN (Electronique)9781665478991
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 2022
Evénement2022 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices, NUSOD 2022 - Turin, Italie
Durée: 12 sept. 202216 sept. 2022

Série de publications

NomProceedings of the International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices, NUSOD
Volume2022-September
ISSN (imprimé)2158-3234

Une conférence

Une conférence2022 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices, NUSOD 2022
Pays/TerritoireItalie
La villeTurin
période12/09/2216/09/22

Empreinte digitale

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