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Study of pm-SiGe:H thin films for p-i-n devices and tandem solar cells

  • Université Paris-Sud 11
  • Indian Association for the Cultivation of Science
  • Institut polytechnique de Paris

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticle de conférenceRevue par des pairs

12 Citations (Scopus)

Résumé

Polymorphous silicon-germanium (pm-SiGe:H) thin films with Ge contents varying from 1 to 35% were fabricated by plasma enhanced chemical vapour deposition in a high pressure range (1350 mtorr) and under high hydrogen dilution. The electrical and optical properties of these films were studied using a set of complementary techniques. These materials were then incorporated in the i layer of p-i-n solar cells. The performance of such solar cells and the use of these pm-SiGe alloys as the bottom cell of tandem pm-Si:H/pm-SiGe:H cells are finally discussed with the help of numerical simulations.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)247-251
Nombre de pages5
journalThin Solid Films
Volume427
Numéro de publication1-2
Les DOIs
étatPublié - 3 mars 2003
EvénementE-MRS, K - Strasbourg, France
Durée: 18 juin 200321 juin 2003

Empreinte digitale

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