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Subpicosecond X-ray diffraction mesasurement of InSb ultrafast melting

  • Antoine Rousse
  • , S. Fourmaux
  • , S. Sebban
  • , D. Hulin
  • , Christian Rischel
  • , Ingo Uschmann
  • , Eckhart Förster
  • , Jean Paul Geindre
  • , Patrick Audebert
  • , Jean Claude Gauthier
  • Laboratory d'Optique Appliquée, ENSTA, CNRS-École Polytechnique
  • Royal Veterinary and Agricultural University
  • Friedrich-Schiller University
  • LULI

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

Subpicosecond atomic behaviour following 100 fs laser excitation is investigated in InSb by time-resolved X-ray diffraction. The process of non-thermal melting is observed and characterized in the subpicosecond time-scale.

langue originaleAnglais
titreInternational Conference on Ultrafast Phenomena, UP 2000
EditeurOptica Publishing Group (formerly OSA)
Pages329-331
Nombre de pages3
ISBN (Electronique)1557526400
étatPublié - 1 janv. 2000
EvénementInternational Conference on Ultrafast Phenomena, UP 2000 - Charleston, États-Unis
Durée: 9 juil. 2000 → …

Série de publications

NomOptics InfoBase Conference Papers
ISSN (Electronique)2162-2701

Une conférence

Une conférenceInternational Conference on Ultrafast Phenomena, UP 2000
Pays/TerritoireÉtats-Unis
La villeCharleston
période9/07/00 → …

Empreinte digitale

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