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Tail widths in hydrogenated amorphous silicon and amorphous silicon carbon alloys measured by photomodulated infrared spectroscopy

  • K. Rerbal
  • , J. N. Chazalviel
  • , F. Ozanam
  • , I. Solomon

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

We have measured the photoinduced infrared absorption of hydrogenated amorphous silicon a-Si:H and silicon-carbon alloys (formula presented) using the sensitive technique of photomodulated infrared spectroscopy. The observed spectra are quantitatively accounted for by a model, which allows one to determine the width (energy spreading) of the conduction and valence band tail states separately.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)1-6
Nombre de pages6
journalPhysical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Volume66
Numéro de publication18
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 2002

Empreinte digitale

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