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Tensile-strained germanium microdisks using Si3N4 stressors

  • M. El Kurdi
  • , A. Ghrib
  • , M. De Kersauson
  • , M. Prost
  • , S. Sauvage
  • , X. Checoury
  • , G. Beaudoin
  • , I. Sagnes
  • , G. Ndong
  • , M. Chaigneau
  • , R. Ossikovski
  • , P. Boucaud
  • CNRS
  • STMicroelectronics SA, France
  • Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies
  • Institut polytechnique de Paris

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collection › Contribution à une conférence › Revue par des pairs

1 Citation (Scopus)

Résumé

A strong tensile strain (1% biaxial) is applied to germanium microdisks using silicon nitride stressors. Both Fabry-Perot and whispering gallery modes are observed with quality factors up to 1350 limited by free carrier absorption.

langue originaleAnglais
titre2013 IEEE 10th International Conference on Group IV Photonics, GFP 2013
Pages95-96
Nombre de pages2
Les DOIs
étatPublié - 31 déc. 2013
Evénement2013 IEEE 10th International Conference on Group IV Photonics, GFP 2013 - Seoul, Corée du Sud
Durée: 28 août 2013 → 30 août 2013

Série de publications

NomIEEE International Conference on Group IV Photonics GFP
ISSN (imprimé)1949-2081

Une conférence

Une conférence2013 IEEE 10th International Conference on Group IV Photonics, GFP 2013
Pays/TerritoireCorée du Sud
La villeSeoul
période28/08/13 → 30/08/13

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Tensile-strained germanium microdisks using Si3N4 stressors ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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