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Thermal characterisation of microelectronics materials at various scales

  • D. Fournier
  • , L. Pottier
  • , K. Plamann
  • , C. Pelissonnier
  • , A. Thorel
  • , F. Queyroux
  • Laboratoire d'Instrumentation
  • PSL Research University
  • ENSMP

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

It is of importance to characterize ceramics devoted to microelectronics applications such as polycristalline diamond, AlN and Al2O3 at various scales. Photothermal experiments will be shown as efficient experimental probes.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)S467-S470
journalProgress in Natural Science
Volume6
Numéro de publicationSPEC. ISS.
étatPublié - 1 janv. 1996
Modification externeOui

Empreinte digitale

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