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Thermal dependence of the emission linewidth of 1.52-μm single mode InAs/InP quantum dot lasers

  • J. Duan
  • , B. Dong
  • , H. Huang
  • , Z. G. Lu
  • , P. J. Poole
  • , F. Grillot
  • CNRS LTCI
  • National Research Council of Canada
  • University of New Mexico

Résultats de recherche: Le chapitre dans un livre, un rapport, une anthologie ou une collectionContribution à une conférenceRevue par des pairs

Résumé

This paper experimentally investigates the thermal dependence of the emission linewidth of 1.52-μm single mode InAs/lnP quantum dot lasers. Using a distributed feedback cavity made with symmetric antireflection coatings, a minimum linewidth of 300 kHz is unveiled. This narrow line is found rather constant with the injection current and the temperature range (293 K - 313 K). However, under certain operating conditions, a linewidth rebroadening is also observed, which may be attributed to the spectral hole burning and to the variations of the alpha-factor with the temperature and bias current. Nevertheless, these results confirm the potential of this technology for manufacturing low-phase noise oscillators for coherent optical communications.

langue originaleAnglais
titre2019 Compound Semiconductor Week, CSW 2019 - Proceedings
EditeurInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (Electronique)9781728100807
Les DOIs
étatPublié - 1 mai 2019
Modification externeOui
Evénement2019 Compound Semiconductor Week, CSW 2019 - Nara, Japon
Durée: 19 mai 201923 mai 2019

Série de publications

Nom2019 Compound Semiconductor Week, CSW 2019 - Proceedings

Une conférence

Une conférence2019 Compound Semiconductor Week, CSW 2019
Pays/TerritoireJapon
La villeNara
période19/05/1923/05/19

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Thermal dependence of the emission linewidth of 1.52-μm single mode InAs/InP quantum dot lasers ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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