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Total-energy tight-binding modelisations of silicon

  • Laboratoire des Solides Irradiés

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticleRevue par des pairs

Résumé

We present a systematic comparison of several tight-binding total-energy modelisations of silicon. These modelisations include the tight-binding electronic cohesive energy and a phenomenological description of a repulsive term. We examine both the electronic band gap and various structural properties such as structural stability, bulk modulus, elastic constants, four typical vibrational modes and their Grüneisen constants. We then apply these models to the calculations of the minimised energies of some multivariant grain boundaries. We discuss the influence of the choice of cut radii.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)388-391
Nombre de pages4
journalComputational Materials Science
Volume10
Numéro de publication1-4
Les DOIs
étatPublié - 1 janv. 1998

Empreinte digitale

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