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Ultrafast electron redistribution in intrinsic GaAs

  • F. X. Camescasse
  • , A. Alexandrou
  • , D. Hulin
  • , L. Banyai
  • , D. B.Tran Thoai
  • , H. Haug

Résultats de recherche: Contribution à un journalArticle de conférenceRevue par des pairs

Résumé

A nondegenerate pump-probe scheme was used to isolate the electron dynamics: the pump pulse excites electrons from the heavy-hole (HH) and light-hole (LH) valence bands while the probe pulse tests the absorption saturation of the interband from the split-off (SO) valence band to the conduction band C. A Ti:sapphire modelocked oscillator and regenerative amplifier system and spectral continuum generation for the pulse probe was used. The sample was an intrinsic GaAs layer, antireflection coated on both sides and held at 15 K. The differential absorption spectra showed to broad peaks at about 1913 and 1950 meV resulting from spectral hole burning.

langue originaleAnglais
Pages (de - à)220-221
Nombre de pages2
journalConference Proceedings - Lasers and Electro-Optics Society Annual Meeting-LEOS
Volume11
étatPublié - 1 janv. 1997
EvénementProceedings of the 1997 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO - Baltimore, MD, USA
Durée: 18 mai 199723 mai 1997

Empreinte digitale

Examiner les sujets de recherche de « Ultrafast electron redistribution in intrinsic GaAs ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.

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