Résumé
We propose an efficient approach for an n-type OFETs with the same device structure used commonly for p-type. Using TIPSTPDO-tetraCN and cross-linked PMMA, respectively as n-type OSC and dielectric, We have obtained linear regime mobility (1.8±0.2)×10-2cm2V-1s-1, small spatial standard deviation of threshold voltage (∼0.1V), and operating voltage less than 3V.
| langue originale | Anglais |
|---|---|
| titre | 22nd International Display Workshops, IDW 2015 |
| Editeur | International Display Workshops |
| Pages | 1566-1568 |
| Nombre de pages | 3 |
| ISBN (Electronique) | 9781510845503 |
| état | Publié - 1 janv. 2015 |
| Modification externe | Oui |
| Evénement | 22nd International Display Workshops, IDW 2015 - Otsu, Japon Durée: 9 déc. 2015 → 11 déc. 2015 |
Série de publications
| Nom | Proceedings of the International Display Workshops |
|---|---|
| Volume | 3 |
| ISSN (imprimé) | 1883-2490 |
Une conférence
| Une conférence | 22nd International Display Workshops, IDW 2015 |
|---|---|
| Pays/Territoire | Japon |
| La ville | Otsu |
| période | 9/12/15 → 11/12/15 |
SDG des Nations Unies
Ce résultat contribue à ou aux Objectifs de développement durable suivants
-
SDG 3 Bonne santé et bien-être
Empreinte digitale
Examiner les sujets de recherche de « Very low voltage flexible n-type organic field effect transistors ». Ensemble, ils forment une empreinte digitale unique.Contient cette citation
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